İçerik
Transmisyon elektron mikroskobu (TEM) ve taramalı elektron mikroskobu (SEM), son derece küçük örnekleri görüntülemek için mikroskobik yöntemlerdir. TEM ve SEM, numune hazırlama yöntemleri ve her bir teknolojinin uygulamalarında karşılaştırılabilir.
TEM
Her iki tip elektron mikroskobu, numuneyi elektronlarla bombalar. TEM, nesnelerin içini incelemek için uygundur. Boyama kontrast sağlar ve kesim inceleme için ultra ince örnekler sağlar. TEM, virüslerin, hücrelerin ve dokuların incelenmesi için çok uygundur.
SEM
SEM tarafından incelenen numuneler, görüntüyü gizleyebilecek fazla elektronları toplamak için altın paladyum, karbon veya platin gibi iletken bir kaplama gerektirir. SEM, makromoleküler agregatlar ve dokular gibi nesnelerin yüzeyini görüntülemek için çok uygundur.
TEM Süreci
Bir elektron tabancası, bir yoğunlaştırıcı mercek tarafından odaklanan bir elektron akışı üretir. Yoğunlaştırılmış ışın ve iletilen elektronlar, objektif bir mercekle bir fosfor görüntü ekranındaki bir görüntüye odaklanır. Daha koyu görüntü alanları daha az elektron iletildiğini ve bu alanların daha kalın olduğunu gösterir.
SEM Süreci
TEM'de olduğu gibi, bir lens tarafından bir elektron ışını üretilir ve yoğunlaştırılır. Bu, SEM'deki bir seyir merceğidir. İkinci bir mercek elektronları sıkı, ince bir ışın halinde oluşturur. Bir dizi bobin, ışını televizyona benzer şekilde tarar. Üçüncü bir mercek ışını numunenin istenen bölümüne yönlendirir. Işın belirtilen bir noktaya dayanabilir. Işın tüm örneği saniyede 30 kez tarayabilir.